文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間：2023-06-06 瀏覽數(shù)量：
隨著汽車電子朝著智能化、信息化、網(wǎng)絡(luò)化方向發(fā)展，新能源汽車的產(chǎn)銷量爆發(fā)性增長，半導(dǎo)體分立器件在汽車電子產(chǎn)品中的應(yīng)用呈現(xiàn)出更大的發(fā)展空間。
AEC-Q101認(rèn)證包含了分立半導(dǎo)體元件（如晶體管，二極管等）最低應(yīng)力測試要求的定義和參考測試條件，目的是要確定分立器件在汽車環(huán)境應(yīng)用中能夠通過應(yīng)力測試以及被認(rèn)為能夠提供某種級別的品質(zhì)和可靠性。根據(jù)AEC-Q101認(rèn)證規(guī)范，分立半導(dǎo)體元件的最低溫度的范圍應(yīng)為-40℃~+125℃，所有LED的最小范圍應(yīng)為-40℃~+85℃。認(rèn)證測試通用測試項(xiàng)目見下表，并非所有測試都適用于所有部件。例如，某些測試只適用于密封包裝的部件，其他測試只適用于MOSFET部件等。
AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)將試驗(yàn)分為5組，Group A為加速環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)，Group B加速壽命模擬試驗(yàn)，Group C封裝完整性試驗(yàn)，Group D模具制造可靠性試驗(yàn)，Group E電氣驗(yàn)證試驗(yàn)，相關(guān)測試項(xiàng)目，參考標(biāo)準(zhǔn)，樣品量及驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)如下：
| TEST GROUP A – 加速環(huán)境應(yīng)力測試 | |||||
| 序號 | 檢測項(xiàng)目 | 縮寫 | 檢測方法 | 樣品量 | 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn) |
| A1 | 預(yù)處理 | PC | JESD22A-113 JEDEC/IPC J-STD-020 | 依據(jù)具體測試項(xiàng)目 | 0失效 |
| A2 | 高加速應(yīng)力試驗(yàn) | HAST | JESD22A-110 | 77個，3批次 | 0失效 |
| A2alt | 高溫高濕反向偏壓 | H3TRB | JESD22A-101 | 77個，3批次 | 0失效 |
| A3 | 無偏高加速應(yīng)力試驗(yàn) | UHAST | JESD22A-118 | 77個，3批次 | 0失效 |
| A3alt | 高壓 | AC | JESD22A-102 | 77個，3批次 | 0失效 |
| A4 | 溫度循環(huán) | TC | JESD22A-104 | 77個，3批次 | 0失效 |
| A4a | 溫度循環(huán)熱試驗(yàn) | TCHT | JESD22A-104 | 77個，3批次 | 0失效 |
| A4a alt | 溫度循環(huán)分層試驗(yàn) | TCDT | JESD22A-104 J-STD-035 | 77個，3批次 | 0失效 |
| A5 | 間隙工作壽命 | IOL | MIL-STD-750 方法1037 | 77個，3批次 | 0失效 |
| A5alt | 功率和溫度循環(huán) | PTC | JESD22A-105 | 77個，3批次 | 0失效 |
| TEST GROUP B – 加速壽命模擬試驗(yàn) | |||||
| 序號 | 檢測項(xiàng)目 | 縮寫 | 檢測方法 | 樣品量 | 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn) |
| B1 | 高溫反向偏壓 | HTRB | MIL-STD-750-1 M1038 條件 A (二極管,整流器和齊納)， M1039 條件 A (晶體管) | 77個，3批次 | 0失效 |
| B1a | 交流阻斷電壓 | ACBV | MIL-STD-750-1 M1040 條件A | 77個，3批次 | 0失效 |
| B1b | 穩(wěn)態(tài)運(yùn)行 | SSOP | MIL-STD-750-1 M1038 條件B（齊納二極管） | 77個，3批次 | 0失效 |
| B2 | 高溫柵偏壓 | HTGB | JESD22A-108 | 77個，3批次 | 0失效 |
| TEST GROUP C – 封裝完整性試驗(yàn) | |||||
| 序號 | 檢測項(xiàng)目 | 縮寫 | 檢測方法 | 樣品量 | 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn) |
| C9 | 熱阻 | TR | JESD24-3，24-4，24-6 | 10個/批預(yù)處理和后處理，1批次 | 0 |
| C10 | 可焊性 | SD | J-STD-002 | 10個，1批次 | 0 |
| C11 | 晶須生長評價 | WG | AEC-Q005 | / | / |
| C12 | 恒定加速 | CA | MIL-STD-750-2，Method 2006 | 30個，1批次 | 0 |
| C13 | 變頻振動 | VVF | JESD22B-103 | 30個，1批次 | 0 |
| C14 | 機(jī)械沖擊 | MS | JESD22B-104 | 30個，1批次 | 0 |
| C15 | 氣密性 | HER | JESD22A-109 | 30個，1批次 | 0 |
| TEST GROUP D – 模具制造可靠性試驗(yàn) | |||||
| 序號 | 檢測項(xiàng)目 | 縮寫 | 檢測方法 | 樣品量 | 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn) |
| D1 | 介質(zhì)完整性 | DI | AEC-Q101-004章節(jié)3 | 5個，1批次 | 0 |
| TEST GROUP E – 電氣驗(yàn)證試驗(yàn) | |||||
| 序號 | 檢測項(xiàng)目 | 縮寫 | 檢測方法 | 樣品量 | 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn) |
| E0 | 外觀檢查 | EV | JESD22B-101 | 所有樣品 | 0失效 |
| E1 | 應(yīng)力測試前后電性能測試 | TEST | 客戶規(guī)范 | 所有樣品 | 0失效 |
| E2 | 參數(shù)驗(yàn)證 | PV | 客戶規(guī)范 | 25個，3批次 | / |
| E3 | ESD HBM | ESDH | AEC-Q101-001 | HBM30個，1批次 | / |
| E4 | ESD CDM | ESDC | AEC-Q101-005 | HDM30個，1批次 | / |
| E5 | 鉗位感應(yīng)開關(guān) | UIS | AEC-Q101-004章節(jié)2 | 5個，1批次 | 0失效 |
| E6 | 短路可靠性 | SC | AEC-Q101-006 | 10個，3批次 | 0失效 |
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