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0769-82327388
文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間：2023-06-06 瀏覽數(shù)量：
AEC-Q認(rèn)證振動(dòng)沖擊測(cè)試在于評(píng)估汽車電子元件在面對(duì)振動(dòng)和沖擊時(shí)的可靠性和耐久性。這些產(chǎn)品通常會(huì)在車輛的復(fù)雜工況下工作，例如在崎嶇的道路上行駛、在高速公路上行駛時(shí)的顛簸以及急剎車等情況下。因此，這些產(chǎn)品必須能夠承受來自車輛振動(dòng)和沖擊的影響，保持正常的功能和性能。
接受條件：0失效
測(cè)試方法：JEDEC JESD22-B103
標(biāo)準(zhǔn)
測(cè)試對(duì)象
測(cè)試數(shù)量
測(cè)試條件
AEC-Q100
集成電路
15
20Hz~2000Hz~20Hz（對(duì)數(shù)掃頻）＞4min，每軸向4次；峰值加速度50g;測(cè)試前后的性能檢查在常溫下
AEC-Q101
離散半導(dǎo)體
僅針對(duì)密封件
20Hz~100Hz 峰峰值位移：0.06inch; 100Hz~2000Hz,加速度50g；
AEC-Q102
離散光電半導(dǎo)體器件
3批次中各取10個(gè)
20Hz~100Hz 峰峰值位移：0.06inch; 100Hz~2000Hz,加速度20g；
AEC-Q103-002
微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)壓力傳感器器件
3批次中各取39個(gè)
M1等級(jí)：20Hz~2000Hz~20Hz（對(duì)數(shù)掃頻）＞4min，每軸向4次；峰值加速度50gM2等級(jí)：10Hz~2000Hz~10Hz（對(duì)數(shù)掃頻）＞4min，每軸向4次；峰值加速度50g備選方案：由任務(wù)文件制定
AEC-Q103-003
微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)麥克風(fēng)器件
3批次中各取12個(gè)
20Hz~2000Hz~20Hz（對(duì)數(shù)掃頻）＜12min，每軸向4次；峰值加速度20g;測(cè)試前后的性能檢查在常溫下
AEC-Q104
多芯片模塊(MCM)
測(cè)試方法：JEDEC JESD22-B110
僅Y1平面，5次沖擊，脈沖持續(xù)時(shí)間0.5ms，峰值加速度1500g。MS前后的測(cè)試在室溫下進(jìn)行。
1500g，0.5ms,5次/方向，±XYZ共30次，前后都要測(cè)試電氣參數(shù)
1500g,0.5ms，5擊，3次/方向。
在MS前和MS后的測(cè)試，或僅在CA前和MS后進(jìn)行測(cè)試。
M1級(jí)：
?測(cè)試條件：每軸雙向5個(gè)脈沖，0.3ms持續(xù)時(shí)間，6000g峰值加速度等級(jí)M2：
?測(cè)試前：下列每次測(cè)試#G3的恒定加速度（CA）
?測(cè)試條件：每軸雙向10個(gè)脈沖，0.3ms持續(xù)時(shí)間，6000g峰值加速度
替代測(cè)試條件：依照任務(wù)剖面（安裝位置定義的機(jī)械條件）
室溫下MS前后測(cè)試。
后測(cè)試：IV（PS11）和WBP（C2）進(jìn)行5個(gè)裝置的測(cè)試。
3個(gè)脈沖，0.5毫秒持續(xù)時(shí)間，在X、Y和Z平面的10000g峰值加速度。室溫下進(jìn)行震動(dòng)前后測(cè)試。
優(yōu)科是專業(yè)第三方AEC-Q認(rèn)證機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室具備AEC-Q100/101/102/103/104/200標(biāo)準(zhǔn)CNAS檢測(cè)資質(zhì)及CNCA發(fā)證資質(zhì)，可提供車規(guī)級(jí)集成電路、分立半導(dǎo)體器件、光電半導(dǎo)體器件、傳感器、被動(dòng)元件等汽車電子元件AEC-Q檢測(cè)認(rèn)證服務(wù)。我們可依據(jù)產(chǎn)品使用條件和質(zhì)量指標(biāo)，定義符合汽車電子質(zhì)量要求的測(cè)試計(jì)劃，助力客戶快速進(jìn)入汽車電子市場(chǎng)。
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