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                PCB失效分析第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)

                文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間:2025-06-27 瀏覽數(shù)量:

                PCB失效分析第三方檢測(cè)服務(wù)簡介

                作為國內(nèi)領(lǐng)先的第三方電子元器件失效分析機(jī)構(gòu),優(yōu)科檢測(cè)認(rèn)證擁有金相顯微鏡、掃描電子顯微鏡(SEM)、能譜分析儀(EDS)、可焊性分析儀、X-RAY射線檢查機(jī)等一系列高精尖設(shè)備,專業(yè)開展PCB及PCBA、汽車電子、各類電子元器件的失效分析、可靠性評(píng)價(jià)、真?zhèn)舞b別與檢測(cè)認(rèn)證等技術(shù)服務(wù)。我們的實(shí)驗(yàn)室通過CNAS認(rèn)可,檢測(cè)流程嚴(yán)格遵循國際和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),保證分析結(jié)果的客觀公正和可追溯性。


                PCB失效分析-1.jpg


                PCB失效分析的目的及必要性

                1. 定位故障根因

                PCB在設(shè)計(jì)或制造過程中,可能因材料缺陷、加工誤差、環(huán)境應(yīng)力等產(chǎn)生失效,準(zhǔn)確識(shí)別故障模式與根本原因,才能避免同類問題重復(fù)發(fā)生。失效分析不僅是修復(fù)問題的第一步,更是優(yōu)化工藝與材料選型的基礎(chǔ)。

                2. 提升產(chǎn)品可靠性

                通過對(duì)故障板進(jìn)行加速應(yīng)力測(cè)試與分析(如熱循環(huán)、濕熱、HAST等),評(píng)估PCB在實(shí)際應(yīng)用環(huán)境中的使用壽命與可靠性,幫助客戶提前發(fā)現(xiàn)潛在風(fēng)險(xiǎn),降低售后返修與召回成本。

                3. 滿足質(zhì)量與法規(guī)要求

                汽車電子、醫(yī)療設(shè)備等領(lǐng)域?qū)煽啃杂袠O高要求,多數(shù)產(chǎn)品需通過IEC、IPC、GB等系列標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試并提供失效分析報(bào)告,以滿足監(jiān)管和客戶需求。


                PCB失效分析實(shí)驗(yàn)室


                PCB失效分析測(cè)試服務(wù)項(xiàng)目

                我們的PCB失效分析和測(cè)試項(xiàng)目涵蓋但不限于:

                - 微觀形貌分析

                  - 金相顯微鏡觀察層壓結(jié)構(gòu)、銅箔剝離、孔壁質(zhì)量等

                  - SEM+EDS復(fù)合分析,檢測(cè)斷裂面、焊點(diǎn)裂紋及元素分布

                - X-RAY射線檢查

                  - 非破壞式內(nèi)部結(jié)構(gòu)掃描,發(fā)現(xiàn)空洞、裂紋、橋連等缺陷

                - 斷面剖析

                  - 交叉切片分析,定量測(cè)量鍍層厚度、孔壁通孔質(zhì)量

                - Dye-and-Pry(染色剝離)

                  - 在IPC-TM-650 Method 2.4.53標(biāo)準(zhǔn)指導(dǎo)下,通過染色滲透,檢驗(yàn)BGA等焊點(diǎn)內(nèi)部裂紋 

                - 可焊性與引出端強(qiáng)度測(cè)試

                  - 按IPC-TM-650 2.4.14、2.4.8等方法評(píng)估可焊性與剝離強(qiáng)度

                - 環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)

                  - 溫度沖擊(IPC-TM-650 2.6.7.2)、冷熱循環(huán)、HAST(加速濕熱),評(píng)估熱應(yīng)力影響

                - 電性能測(cè)試

                  - 介質(zhì)耐電壓(IPC-TM-650 2.5.7)、離子污染測(cè)試(IPC-TM-650 2.3.25.1)

                以上項(xiàng)目均可根據(jù)客戶需求進(jìn)行定制組合,提供單次檢測(cè)或系統(tǒng)可靠性評(píng)價(jià)報(bào)告。


                PCB失效分析第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)


                PCB失效分析第三方檢測(cè)報(bào)告辦理流程

                1. 需求溝通與樣品準(zhǔn)備

                   客戶提交故障描述、PCB樣品及相關(guān)工藝資料,我們進(jìn)行初步風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估并確認(rèn)測(cè)試方案。 

                2. 簽訂檢測(cè)協(xié)議

                   明確檢測(cè)項(xiàng)目、標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)、費(fèi)用與時(shí)間節(jié)點(diǎn),簽署《檢測(cè)委托協(xié)議》。

                3. 樣品接收與檢驗(yàn)

                   實(shí)驗(yàn)室對(duì)樣品數(shù)量、型號(hào)進(jìn)行驗(yàn)收,并進(jìn)行外觀及尺寸初檢。

                4. 失效分析實(shí)施

                   按照既定方案,依次開展電性能測(cè)試、微觀剖析、X-RAY、SEM/EDS、染色剝離等專業(yè)檢測(cè)。

                5. 數(shù)據(jù)匯總與結(jié)果評(píng)審

                   多學(xué)科專家團(tuán)隊(duì)對(duì)檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行綜合分析,出具根因診斷報(bào)告,提出改進(jìn)建議。

                6. 報(bào)告編制與交付

                   生成《PCB失效分析報(bào)告》,包含試驗(yàn)過程、結(jié)果、判定依據(jù)、圖片與分析結(jié)論。報(bào)告經(jīng)CNAS審簽后,以紙質(zhì)或電子版形式交付客戶,并提供技術(shù)答疑服務(wù)。


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