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                AEC-Q200認(rèn)證測(cè)試內(nèi)容解析

                文章來(lái)源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間:2021-11-16 瀏覽數(shù)量:

                AEC-Q200是汽車(chē)電子委員會(huì)AEC針對(duì)汽車(chē)上應(yīng)用的被動(dòng)元器件的質(zhì)量可靠性驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn),AEC-Q200認(rèn)證共包含36個(gè)測(cè)試項(xiàng)目,但并不是所有產(chǎn)品都需要做全這些測(cè)試,AEC-Q200標(biāo)準(zhǔn)中的表 2~14分別列出了不同類(lèi)型無(wú)源器件的測(cè)試方案和要求。廣東優(yōu)科檢測(cè)是獲得AEC-Q200全項(xiàng)CNAS測(cè)試資質(zhì)的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu),可提供車(chē)規(guī)無(wú)源器件AEC-Q200認(rèn)證測(cè)試服務(wù)。


                AEC-Q200認(rèn)證測(cè)試內(nèi)容解析


                AEC-Q200中的無(wú)源器件

                電容:鉭電容和陶瓷電容(Table 2),鋁電解電容(Table 3) ,薄膜電容(Table 4),可調(diào)電容(Table 9) 

                磁性組件:電感,變壓器(Table 5) 

                電容網(wǎng)絡(luò):R-C/C/R (Table 6) 

                電阻:一般電阻(Table 7)可調(diào)電阻(Table 9) 

                熱敏電阻(Table 8) 

                壓敏電阻(Table 10) 

                晶振:石英晶振(Table 11) ,陶瓷晶振(Table 12) 

                EMI濾波器(Table 13) 

                聚合物自恢復(fù)保險(xiǎn)絲(Table 14) 


                無(wú)源器件AEC-Q200認(rèn)證測(cè)試


                AEC-Q200測(cè)試目的

                AEC-Q200測(cè)試主要是模擬評(píng)估元器件在制程,安裝以及汽車(chē)環(huán)境中工作所經(jīng)受的應(yīng)力的影響。如溫度,濕度,振動(dòng),沖擊,ESD, 腐蝕,耐燃,機(jī)械損傷,電磁干擾等。


                AEC-Q200認(rèn)證測(cè)試實(shí)驗(yàn)室


                AEC-Q200認(rèn)證測(cè)試項(xiàng)目

                溫度和濕度應(yīng)力:No.3 高溫存儲(chǔ)測(cè)試、No.4 溫度循環(huán)測(cè)試(溫度沖擊)、No.6 抗潮性、No.7 濕度偏置、No.8 高溫操作測(cè)試、No. 15 耐焊熱測(cè)試、No.16 溫度沖擊測(cè)試;

                振動(dòng)與沖擊:No.13 機(jī)械沖擊測(cè)試、No.14 振動(dòng)測(cè)試;

                機(jī)械損傷:No.9 外觀檢查、No.11 引腳強(qiáng)度測(cè)試(Lead)、No. 21 基板耐彎測(cè)試、No.22引腳強(qiáng)度測(cè)試(SMD)、No.23 橫梁負(fù)載測(cè)試、No. 25 旋轉(zhuǎn)壽命;

                耐腐蝕,耐溶液:No.12 耐溶劑性試驗(yàn)、No. 29 鹽霧測(cè)試;

                電磁輻射:No.17 ESD、No.30  瞬間傳導(dǎo)測(cè)試;

                耐燃:No.20 可燃性測(cè)試、No.24  阻燃測(cè)試;

                可焊性測(cè)試:No.18 可焊性測(cè)試;

                電參數(shù)測(cè)試:No.1 電參數(shù)測(cè)試,No.19電氣參數(shù)特征試驗(yàn)。


                AEC-Q200認(rèn)證測(cè)試內(nèi)容

                AEC-Q200認(rèn)證測(cè)試內(nèi)容


                AEC-Q200認(rèn)證測(cè)試要求

                1. 每個(gè)環(huán)境應(yīng)力測(cè)試項(xiàng)目前后都要進(jìn)行電參數(shù)測(cè)試,特別要求除外。

                2. 1000小時(shí)的長(zhǎng)時(shí)間老化測(cè)試會(huì)額外增加250,500,1000小時(shí)幾個(gè)階段。

                3. 一般電參數(shù)測(cè)試會(huì)是在室溫狀態(tài)(25±5 °C )下進(jìn)行,應(yīng)力測(cè)試完成后24±4小時(shí)內(nèi)進(jìn)行。

                4. No.19 電參數(shù)測(cè)試需在客戶(hù)規(guī)格書(shū)中宣稱(chēng)的低溫,室溫,高溫中進(jìn)行測(cè)試。

                5. 接受條件和要求參數(shù)依據(jù)客戶(hù)規(guī)格書(shū)進(jìn)行判定,AEC-Q200所有測(cè)試只接受零失敗。


                AEC-200測(cè)試機(jī)構(gòu)


                以上就是關(guān)于AEC-Q200認(rèn)證測(cè)試內(nèi)容的介紹,如果您想了解相關(guān)產(chǎn)品的具體測(cè)試項(xiàng)目及要求,歡迎聯(lián)系廣東優(yōu)科檢測(cè)工程師!


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