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文章來(lái)源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間：2019-09-04 瀏覽數(shù)量：
廣東優(yōu)科檢測(cè)是已獲得CNAS和CMA資質(zhì)認(rèn)可的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室配備高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱，可提供SD卡溫度循環(huán)試驗(yàn)測(cè)試服務(wù)，并可出具溫度循環(huán)試驗(yàn)測(cè)試報(bào)告。
SD卡溫度循環(huán)測(cè)試
1. 測(cè)試設(shè)備
高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱
高低溫濕熱試驗(yàn)箱適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元器件，在高溫、低溫或濕熱環(huán)境下的各項(xiàng)性能指標(biāo)的檢驗(yàn)。
2. 實(shí)驗(yàn)室環(huán)境條件
溫度：25℃±5℃
相對(duì)濕度：55%±15%（RH）
3. 測(cè)試參考文件
此測(cè)試條件依據(jù)委托客戶要求的規(guī)范
4. 測(cè)試條件
待測(cè)物為非運(yùn)作狀態(tài)；
測(cè)試溫度范圍：-55℃至+125℃；
駐留時(shí)間：每個(gè)高低溫度測(cè)試點(diǎn)各停留10分鐘；
溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間：5分鐘；
循環(huán)時(shí)間：30分鐘；
循環(huán)數(shù)：100循環(huán)。
5. 測(cè)試結(jié)果
測(cè)試后，產(chǎn)品功能及外觀檢測(cè)正常。
以上就是關(guān)于SD卡溫度循環(huán)試驗(yàn)測(cè)試哪里可以做的介紹，如果您有航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元器件產(chǎn)品需要做溫度循環(huán)試驗(yàn)測(cè)試，歡迎聯(lián)系廣東優(yōu)科檢測(cè)工程師！
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