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文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間：2023-11-27 瀏覽數(shù)量：
優(yōu)科檢測是專業(yè)第三方電子元器件二次篩選機構(gòu)，實驗室具備通用晶體三極管GJB標準CNAS檢測資質(zhì)和檢測能力，可提供通用晶體三極管二次篩選、環(huán)境可靠性測試服務(wù)。
GJB 33A-1997 《半導體分立器件總規(guī)范》
GJB 128A-1997 《半導體分立器件試驗方法》
GB/T4587-1994 第Ⅳ章 《半導體分立器件和集成電路第 7 部分：雙極型晶體管》
1. 內(nèi)部目檢；
2. 溫度循環(huán)；
3. 恒定加速度；
4. PIND；
5. 編序列號；
6. 初始電參數(shù)測試；
7. 老練；
8. 終點電參數(shù)測試；
9. 計算變化量；
10. 計算PD；
11. PDA；
12. 密封試驗（細檢漏、粗檢漏）；
13. X射線照相檢驗；
14. 外觀檢查。
1. 集電極-基極擊穿電壓V(br)cbo
2. 發(fā)射極-基極擊穿電壓V(br)ebo
3. 集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(br)ceo
4. 集電極-基極截止電流Icbo
5. 集電極-發(fā)射極截止電流Iceo
6. 發(fā)射極-基極截止電流Iebo
7. 集電極-發(fā)射極飽和電壓VCEsat
8. 基極-發(fā)射極飽和壓降 Vbesat
9. 正向電流傳輸比 Hfe
1. 專家團隊
可靠性檢測專家、定制化服務(wù)、專業(yè)人員技術(shù)培訓服務(wù)，擁有多名航空、航天電子元器件質(zhì)量可靠性專組成的專家團隊50余人。
2. 專業(yè)設(shè)備
配備各種規(guī)格的集成電路測試系統(tǒng)，老煉箱50余臺、各類環(huán)境箱體20臺套、機械性能與可靠性檢測設(shè)備30臺套、半導體分立器件測試系統(tǒng)、模擬器件測試系統(tǒng)、檢漏系統(tǒng)、PIND顆粒碰撞檢測設(shè)備等。
3. 一站式方案服務(wù)
依據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格，準確制定元器件的篩選方案和規(guī)程\依據(jù)篩選結(jié)果，準確定位元器件失效機理，并依據(jù)客戶需求給出元器件失效分析方案。
4. 權(quán)威保障
軍用級檢測體系控制+軍方實驗室認可檢測設(shè)備，保證測試流程和測試精度，第三方公正檢測機構(gòu)。
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