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文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間：2023-07-27 瀏覽數(shù)量：
隨著智能電網(wǎng)、汽車電氣化等應(yīng)用領(lǐng)域的發(fā)展，由于高功率密度和緊湊性，功率半導(dǎo)體器件被廣泛應(yīng)用于幾乎所有的電子制造業(yè)，目前使用領(lǐng)域正從傳統(tǒng)工業(yè)制造和4C產(chǎn)業(yè)向新能源、電力機(jī)車、智能電網(wǎng)等領(lǐng)域發(fā)展。如何準(zhǔn)確評估功率器件的可靠性變得至為關(guān)鍵。
優(yōu)科檢測是專業(yè)第三方電子元器件檢測機(jī)構(gòu)，可提供功率器件AEC-Q101檢測、二次篩選、失效分析等可靠性驗證服務(wù)，接下來為大家介紹功率器件常見測試項目。
1. 產(chǎn)品特性測試
- 靜態(tài)參數(shù)測試（靜態(tài)參數(shù)·特性曲線）：
最基本的測試項目，可簡單的評估器件的性能好壞。
各種靜態(tài)參數(shù)為使用者可靠選擇器件提供了非常直觀的參考依據(jù)、同時在變頻器，焊機(jī)，軌道交通中的功率器件檢測維修，發(fā)揮了至關(guān)重要的作用。
- 動態(tài)參數(shù)測試（開關(guān)特性·反向恢復(fù)·電容特性·柵極電荷）：
動態(tài)參數(shù)的優(yōu)良決定著器件的開關(guān)性能。
通常我們希望功率半導(dǎo)體器件的開關(guān)速度盡可能得高、開關(guān)過程短、損耗小。但是在實際應(yīng)用中，影響開關(guān)特性的參數(shù)有很多，如續(xù)流二極管的反向恢復(fù)參數(shù)，柵極/漏極、柵極/源極及漏極/源極電容、柵極電荷的存在，所以針對于此類參數(shù)的測試，變得尤為重要。開關(guān)特性決定裝置的開關(guān)損耗、功率密度、器件應(yīng)力以及電磁兼容性。直接影響變換器的性能。因此準(zhǔn)確的測量功率半導(dǎo)體器件的開關(guān)性能具有極其重要的意義。
- 短路能力：功率半導(dǎo)體器件的關(guān)鍵性能指標(biāo)
SiC MOSFET具有低損耗、耐高壓、導(dǎo)通電流大、開關(guān)速度快和溫度穩(wěn)定性好等優(yōu)點，在電動汽車、鐵路、風(fēng)力發(fā)電、光伏逆變器、柔性直流輸電等商用領(lǐng)域均得到應(yīng)用。隨著SiC MOSFET應(yīng)用場景進(jìn)一步拓寬，所面對的工況也日益復(fù)雜，可能面對過流乃至更極端的短路的挑戰(zhàn)。器件的短路耐受能力直接決定了對故障保護(hù)和預(yù)防器件失效的設(shè)計，因此對其進(jìn)行測試是十分必要且重要的。
- 極限能力測試：如浪涌電流測試，雪崩能量測試。
浪涌電流是指電源接通瞬間或是在電路出現(xiàn)異常情況下產(chǎn)生的遠(yuǎn)大于穩(wěn)態(tài)電流的峰值電流或過載電流。雪崩耐量即向半導(dǎo)體的接合部施加較大的反向衰減偏壓時，電場衰減電流的流動會引起雪崩衰減，此時元件可吸收的能量稱為雪崩耐量。
2. 可靠性測試
老化可靠性壽命測試：為了保證產(chǎn)品的耐久性能，也就是產(chǎn)品使用的壽命。半導(dǎo)體功率器件廠家在產(chǎn)品定型前都會做一系列的可靠性試驗，以確保產(chǎn)品的長期耐久性能。
這里一般涉及到：功率循環(huán)、高溫反偏、高溫柵偏、高溫高濕反偏、溫度循環(huán)、溫度沖擊、高低溫存儲、間歇性壽命測試等各項測試。
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