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優(yōu)科檢測(cè)認(rèn)證是專業(yè)第三方EMI測(cè)試實(shí)驗(yàn)室，具備豐富的EMI測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，可提供EMI輻射測(cè)試、EMI傳導(dǎo)測(cè)試、EMI預(yù)兼容測(cè)試等第三方EMI測(cè)試服務(wù)。

EMI測(cè)試的目的

EMC（電磁兼容）是各國(guó)對(duì)電子產(chǎn)品準(zhǔn)入市場(chǎng)的基本技術(shù)要求。EMC包括EMI（電磁干擾）及EMS（電磁耐受性）兩部分，所謂EMI電磁干擾，乃為機(jī)器本身在執(zhí)行應(yīng)有功能的過(guò)程中所產(chǎn)生不利于其它系統(tǒng)的電磁噪聲。

EMI測(cè)試包括輻射發(fā)射與傳導(dǎo)發(fā)射所要求限值僅僅是為了保護(hù)無(wú)線電接收。它不對(duì)工作在周邊其它所有非無(wú)線電接收系統(tǒng)在工作時(shí)的EMC問(wèn)題負(fù)責(zé)。即使是傳導(dǎo)騷擾（CE）測(cè)試，也是一種評(píng)價(jià)產(chǎn)品工作時(shí)在低頻段產(chǎn)生的輻射大小的手段，因?yàn)檫@種輻射主要是通過(guò)電纜產(chǎn)生的，測(cè)試到了電纜端口的傳導(dǎo)騷擾電平即預(yù)測(cè)了產(chǎn)品在此端口所鏈接的線纜產(chǎn)生的輻射發(fā)射。

EMI測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

- RE輻射發(fā)射、CE傳導(dǎo)干擾：EN55032、GB9254；

- Harmonic諧波電流測(cè)試：EN61000-3-2、GB17625.1；

- Flicker電壓變化與閃爍測(cè)試：EN61000-3-3、GB17625.2；

EMI測(cè)試項(xiàng)目

RE輻射發(fā)射測(cè)試

測(cè)試目的：驗(yàn)證產(chǎn)品的電磁輻射是否滿足標(biāo)準(zhǔn)要求

測(cè)試場(chǎng)地：開(kāi)闊室外場(chǎng)地或半電波暗室

測(cè)試原理：天線將EUT（被測(cè)設(shè)備）發(fā)射的噪聲傳遞給接收機(jī)，通過(guò)圖表方式顯示出來(lái)。天線接受到的信號(hào)將是直射路徑和反射路徑信號(hào)的總和。

CE傳導(dǎo)測(cè)試

測(cè)試目的：確保EUT（被測(cè)設(shè)備）通過(guò)電源線、信號(hào)線等傳導(dǎo)到公用電網(wǎng)的干擾信號(hào)不超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)要求，從而保證電網(wǎng)上其他設(shè)備免受干擾。

測(cè)試端口：電源端口、信號(hào)端口。

測(cè)試頻段：150K—30MHz

測(cè)試原則：每個(gè)端口都需測(cè)試，所有電源口需同時(shí)測(cè)試。

Harmonic諧波電流測(cè)試

諧波指頻率為供電系統(tǒng)額定頻率整數(shù)倍的正弦電壓或電流，比如基頻50Hz的3次諧波為150Hz交流電。

測(cè)試目的：由于諧波產(chǎn)生的諧波壓降，疊加在電網(wǎng)基波上，可能會(huì)引起電壓畸變，從而影響其他電器設(shè)備正常工作，因此，需要測(cè)試將這類諧波限制在安全標(biāo)準(zhǔn)以下。

Flicker電壓變化與閃爍測(cè)試

測(cè)試目的：具有頻繁開(kāi)關(guān)的設(shè)備，可能會(huì)引起電源負(fù)荷頻繁變化，造成電網(wǎng)電壓波動(dòng)，為了避免接在電網(wǎng)上其他設(shè)備受影響，需要對(duì)電壓變化產(chǎn)生的影響以及「連續(xù)的電壓波動(dòng)即閃爍」產(chǎn)生的影響做測(cè)試。

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