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優(yōu)科檢測(cè)認(rèn)證專注電子元器件檢測(cè)近20年，實(shí)驗(yàn)室具備電子元器件IEC標(biāo)準(zhǔn)、國(guó)標(biāo) 、國(guó)軍標(biāo)、美標(biāo)等各體系標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)資質(zhì)和檢測(cè)能力，可開展GJB元器件二次篩選服務(wù)。

GJB元器件二次篩選常用標(biāo)準(zhǔn)

GJB150.1A-2009 《軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第1部分： 通用要求》

GJB150.2A-2009 《軍用裝備試驗(yàn)室環(huán)境方法 第 2 部分：低氣壓（高度）試驗(yàn)》

GJB150.3A-2009 《軍用裝備試驗(yàn)室環(huán)境方法 第 3 部分：高溫試驗(yàn)》

GJB150.4A-2009 《軍用裝備試驗(yàn)室環(huán)境方法 第 4 部分：低溫試驗(yàn)》

GJB150.5A-2009 《軍用裝備試驗(yàn)室環(huán)境方法 第 5 部分：溫度沖擊試驗(yàn)》

GJB150.6 《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 溫度—高度試驗(yàn)》 

GJB150.9A-2009 《軍用裝備試驗(yàn)室環(huán)境方法 第 9 部分：濕熱試驗(yàn)》 

GJB150.11A-2009 《軍用裝備試驗(yàn)室環(huán)境方法 第 11 部分：鹽霧試驗(yàn)》 

GJB150.14A-2009 《軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第 14 部分：浸漬試驗(yàn)》

GJB150.15A-2009 《軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第 15 部分：加速度試驗(yàn)》 

GJB 360B-2009 《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》

GJB 548B-2005 《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》

GJB 128A-1997 《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》

GJB 33A-1997 《半導(dǎo)體分立器件總規(guī)范》

GJB 5018-2001 《半導(dǎo)體光電子器件篩選與驗(yàn)收通用要求》

GJB 597B-2012 《半導(dǎo)體集成電路通用規(guī)范》

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GJB元器件二次篩選范圍

電子元件：電阻、電容、電感、繼電器、磁珠、變壓器、晶體振蕩器、晶體諧振器、繼電器、電連接器等；

半導(dǎo)體分立器件：二極管、三極管、MOS管、IGBT等；

半導(dǎo)體集成電路：CPU、存儲(chǔ)器、FPGA、AD/DA、數(shù)字電路、模擬電路、混合電路、DC/DC等；

電子模塊：電源模塊、通訊模塊、控制模塊等具備相對(duì)功能完整電路。

我們的優(yōu)勢(shì)

1. 電子元器件可靠性檢測(cè)專家、定制化服務(wù)、專業(yè)人員技術(shù)培訓(xùn)服務(wù)。

2. 可依據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格，準(zhǔn)確制定元器件的篩選方案和規(guī)程。

3. 依據(jù)篩選結(jié)果，準(zhǔn)確定位元器件失效機(jī)理，并依據(jù)客戶需求給出元器件失效分析方案。

4. 軍用級(jí)檢測(cè)體系控制+軍方實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可檢測(cè)設(shè)備，保證測(cè)試流程和測(cè)試精度，第三方公正檢測(cè)機(jī)構(gòu)。

5. 二十年元器件專業(yè)檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室+元器件一站式檢測(cè)服務(wù)：器件自動(dòng)化封測(cè)、品牌供應(yīng)商器件篩選、汽車電子（AEC-Q100、AEC-Q200）、軍工電子、 DPA檢測(cè)、失效分析等檢測(cè)配套能力。

辦理GJB元器件二次篩選，請(qǐng)聯(lián)系第三方元器件二次篩選機(jī)構(gòu)-優(yōu)科檢測(cè)認(rèn)證。 我們將以優(yōu)惠的價(jià)格和周到的服務(wù)為您提供專業(yè)高效的檢測(cè)認(rèn)證服務(wù)。 如果您向我們提供產(chǎn)品圖片和規(guī)格，我們將根據(jù)您的產(chǎn)品給出相應(yīng)的周期、報(bào)價(jià)和具體方案。 歡迎您來電咨詢！