文章來(lái)源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間：2021-09-27 瀏覽數(shù)量：
被動(dòng)元件AEC-Q200-002人體模式靜電放電測(cè)試
AEC-Q200-002是針對(duì)汽車被動(dòng)元件人體模式靜電放電測(cè)試的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，廣東優(yōu)科檢測(cè)具備AEC-Q200全項(xiàng)CNAS檢測(cè)資質(zhì)和檢測(cè)能力，可提供電感、電容器等被動(dòng)元件AEC-Q200-002人體模式靜電放電測(cè)試服務(wù)。
AEC-Q200-002規(guī)范的目的是建立一個(gè)可靠且可重復(fù)的程序來(lái)確定無(wú)源組件 HBM ESD 靈敏度。
IEC 61000-4-2
ISO 10605
3.1 樣本量：
每個(gè)樣本組應(yīng)由 15 個(gè)成分組成，如 AEC-Q200 表 1 中的規(guī)定。應(yīng)使用第 3.2 節(jié)中指定的所有引腳和/或端子組合在一 (1) 個(gè)電壓水平下對(duì)每個(gè)樣品組施加應(yīng)力。建議對(duì)每個(gè)應(yīng)力電壓水平使用新的樣品組。如果樣品組中的所有組件在暴露于指定電壓水平后滿足第 5 節(jié)規(guī)定的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)要求，則允許將同一樣品組用于下一個(gè)應(yīng)力水平。
3.2 引腳和/或端子組合：
每對(duì)引腳和/或端子以及每個(gè)組件的所有引腳和/或端子對(duì)組合均應(yīng)按照?qǐng)D 4 中規(guī)定的 ESD 級(jí)別在每個(gè)應(yīng)力電壓極性下經(jīng)受一 (1) 個(gè)脈沖. 任何未經(jīng)測(cè)試的引腳和/或端子應(yīng)處于電開(kāi)路（浮動(dòng)）狀態(tài)。必須測(cè)試足夠數(shù)量的 ESD 級(jí)別，以：a) 證明組件可以通過(guò) 25kV 空氣放電暴露，或 b) 確定兩 (2) 個(gè)連續(xù) ESD 測(cè)試級(jí)別之間的通過(guò)/失敗過(guò)渡區(qū)域。如果無(wú)法估計(jì)預(yù)期的故障級(jí)別，則可以使用圖 4 的測(cè)試流程圖來(lái)最小化所需的測(cè)試量。
3.3 測(cè)試環(huán)境：
每個(gè)組件應(yīng)經(jīng)受 22°C ± 5°C 的 ESD 脈沖。對(duì)于所有空氣放電測(cè)試，相對(duì)濕度應(yīng)為 30% 至 60%。
3.4 測(cè)量：
在 ESD 測(cè)試之前，除非用戶設(shè)備規(guī)范中另有規(guī)定，否則應(yīng)根據(jù)適用的用戶設(shè)備規(guī)范在室溫和高溫下對(duì)所有樣本組和每個(gè)樣本組中的所有組件執(zhí)行完整的參數(shù)測(cè)試（初始電氣驗(yàn)證）。如果使用允許的參數(shù)偏移作為失效標(biāo)準(zhǔn)，則應(yīng)制作每個(gè)組件的數(shù)據(jù)日志，列出適用的參數(shù)測(cè)量值。數(shù)據(jù)日志將與最終電氣測(cè)試驗(yàn)證測(cè)試期間測(cè)量的參數(shù)進(jìn)行比較，以確定第 4 部分的故障標(biāo)準(zhǔn)。
3.5 測(cè)試設(shè)置：
a. 在對(duì) DUT 進(jìn)行放電之前，確保已執(zhí)行每日 ESD 模擬器充電驗(yàn)證程序。
b. ESD模擬器高壓地應(yīng)通過(guò)長(zhǎng)度≤1m、電感≤2μH的接地母線直接連接到地平面。
c. 所有 DUT 都被認(rèn)為對(duì) ESD 敏感，除非另有證明，并應(yīng)進(jìn)行相應(yīng)處理（參考內(nèi)部程序以正確處理 ESD 敏感組件）。
d. 在應(yīng)用任何 ESD 應(yīng)力電壓水平之前，DUT 必須通過(guò)第 3.4 節(jié)中定義的完整參數(shù)測(cè)試（初始電氣驗(yàn)證）。
3.6 詳細(xì)流程：
3.6.1 直接接觸放電：
a. ESD 模擬器應(yīng)與第 3.2 節(jié)中指定的每個(gè) PUT 直接接觸。
b. 樣品組中的每個(gè) PUT 應(yīng)使用直接接觸放電探頭在圖 4 的測(cè)試流程圖中指定的應(yīng)力電壓水平下進(jìn)行測(cè)試。應(yīng)向樣品組內(nèi)的每個(gè) PUT 施加兩 (2) 次放電，并在每個(gè)應(yīng)力電壓水平下，一 (1) 次為正極性，一 (1) 次為負(fù)極性。
c. 在每次對(duì) PUT 放電后，應(yīng)通過(guò)在 PUT 放電位置和/或 DUT 的接地點(diǎn)與測(cè)試裝置的接地點(diǎn)之間短暫連接一個(gè)一 (1) 兆歐的電阻器來(lái)消耗 DUT 上剩余的殘余電荷。
d. 對(duì)樣品組內(nèi)的所有組分重復(fù)該過(guò)程。
e. 使用下一個(gè)樣品組，選擇另一個(gè)直接接觸應(yīng)力電壓水平并重復(fù)上述過(guò)程，直到所有樣品組都在指定的電壓水平下進(jìn)行了測(cè)試。如果樣品組中的所有組件在暴露于指定電壓水平后滿足第 5 節(jié)規(guī)定的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)要求，則允許將同一樣品組用于下一個(gè)應(yīng)力電壓水平。
f. 除非用戶設(shè)備規(guī)范中另有規(guī)定，否則根據(jù)用戶設(shè)備規(guī)范在室溫和高溫下提交組件進(jìn)行完整的參數(shù)測(cè)試（最終電氣驗(yàn)證），并確定組件是否滿足第 5 節(jié)中規(guī)定的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)要求。在測(cè)試完所有樣品組后，允許根據(jù)用戶設(shè)備規(guī)范執(zhí)行參數(shù)測(cè)試（最終電氣驗(yàn)證）。
3.6.2 空氣排放：
a. 使用新的樣品組，第 3.2 節(jié)中指定的每個(gè) PUT 應(yīng)使用空氣放電探針在圖 4 的測(cè)試流程圖中指定的空氣放電應(yīng)力電壓水平下進(jìn)行測(cè)試。如果樣品組中的所有組件在暴露于指定電壓水平后滿足第 5 節(jié)規(guī)定的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)要求，則允許將同一樣品組用于下一個(gè)應(yīng)力電壓水平。
b. ESD 模擬器應(yīng)放置在距離 PUT ≥ 15mm 的地方。帶有空氣放電探頭的模擬器應(yīng)垂直于 PUT 放電位置。探頭應(yīng)向 PUT 緩慢移動(dòng)（例如，≤ 5 毫米/秒），直到獲得單次放電。
c. 如果沒(méi)有發(fā)生放電，繼續(xù)將探頭移向 DUT，直到模擬器放電探頭接觸到 PUT 放電位置。如果模擬器與 PUT 放電位置接觸并發(fā)生放電，則停止在應(yīng)力電壓水平和位置進(jìn)行測(cè)試。帶有緊密間隔的引線或金屬流道的測(cè)試板可能會(huì)阻止放電到預(yù)期的 PUT 并導(dǎo)致電弧現(xiàn)象。出現(xiàn)這種情況時(shí)，應(yīng)使用減少引線或金屬流道數(shù)量的多塊測(cè)試板。
d. 應(yīng)在空氣放電應(yīng)力電壓水平下對(duì)樣品組內(nèi)的每個(gè) PUT 施加兩 (2) 次放電，一 (1) 次為正極性，一 (1) 次為負(fù)極性。
e. 在每次對(duì) PUT 放電后，應(yīng)通過(guò)在 PUT 放電位置和/或 DUT 的接地點(diǎn)與測(cè)試裝置的接地點(diǎn)之間短暫連接一個(gè)一 (1) 兆歐的電阻器來(lái)消耗 DUT 上剩余的殘余電荷。
f. 對(duì)樣品組內(nèi)的所有組分重復(fù)該過(guò)程。
g. 使用下一個(gè)樣品組，選擇另一個(gè)空氣放電應(yīng)力電壓水平并重復(fù)上述過(guò)程，直到所有樣品組都在特定電壓水平下進(jìn)行了測(cè)試。如果樣品組中的所有組件在暴露于指定電壓水平后滿足第 5 節(jié)規(guī)定的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)要求，則允許將同一樣品組用于下一個(gè)應(yīng)力電壓水平。
h. 除非用戶設(shè)備規(guī)范中另有規(guī)定，否則根據(jù)用戶設(shè)備規(guī)范在室溫和高溫下提交組件進(jìn)行完整的參數(shù)測(cè)試（最終電氣驗(yàn)證），并確定組件是否滿足第 5 節(jié)中規(guī)定的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)要求。在測(cè)試完所有樣品組后，允許根據(jù)用戶設(shè)備規(guī)范執(zhí)行參數(shù)測(cè)試（最終電氣驗(yàn)證）。
如果在暴露于 ESD 脈沖后，組件不符合以下任一標(biāo)準(zhǔn)，則該組件將被定義為故障：
1. 元件超出允許偏移值。特定參數(shù)和允許偏移值應(yīng)在適用的用戶設(shè)備規(guī)范中定義。在初始參數(shù)測(cè)試期間，應(yīng)為每個(gè)組件制作數(shù)據(jù)日志，列出適用的參數(shù)測(cè)量值。數(shù)據(jù)日志將與最終參數(shù)測(cè)試期間測(cè)量的參數(shù)進(jìn)行比較，以確定偏移值。超過(guò)允許偏移值的組件將被定義為失敗。
2. 組件不再滿足用戶設(shè)備規(guī)范要求。應(yīng)根據(jù)適用的用戶設(shè)備規(guī)范執(zhí)行完整的參數(shù)測(cè)試（初始和最終電氣驗(yàn)證）。
如果在該電壓水平上受壓的所有組件均通過(guò)，則該組件通過(guò)該電壓水平。所有使用的樣品必須滿足第 3 部分規(guī)定的測(cè)量要求和第 4 部分規(guī)定的失效標(biāo)準(zhǔn)要求。使用表 2 規(guī)定的分類等級(jí)，根據(jù) ESD 測(cè)試期間幸存的最高 ESD 電壓等級(jí)對(duì)組件進(jìn)行分類。供應(yīng)商應(yīng)為每個(gè)組件定義 ESD 耐受電壓。
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