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                二極管元器件篩選方法詳解

                文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間:2024-08-19 瀏覽數(shù)量:

                在電子產品的生產和使用過程中,二極管元器件的早期失效是一個常見的問題。為了提高產品的可靠性并確保其在實際應用中的穩(wěn)定性,電子元器件的二次篩選已成為一項至關重要的流程。二次篩選旨在通過一系列有針對性的測試,剔除潛在的早期失效產品,激發(fā)出元器件潛在的設計和生產缺陷,從而提升整機系統(tǒng)的可靠性。

                優(yōu)科檢測作為專業(yè)的第三方電子元器件二次篩選機構,具備篩選包括二極管在內的多種電子及電氣元件的資質和能力。以下是關于二極管元器件篩選項目及方法的詳細介紹。


                二極管二次篩選機構


                篩選依據(jù)標準

                二極管元器件的篩選依照以下標準進行:

                - GJB 7243-2011: 專用電子元器件篩選技術要求

                - GJB 33A-1997: 半導體分立器件總規(guī)范

                - GJB128B-2021: 半導體分立器件試驗方法


                篩選項目及方法

                1. 編序列號

                   為每個二極管元器件分配唯一的序列號,以確保在整個篩選過程中的可追溯性。


                2. 電參數(shù)測試(室溫)

                   在室溫下測試二極管的關鍵電參數(shù),如正向電壓(VF)、反向電壓(VR)或反向電流(IR)。這些參數(shù)的測量和合格標準需依據(jù)詳細規(guī)范或產品手冊的要求。


                3. 溫度循環(huán)

                   依據(jù)GJB128A 1051方法 條件B,對二極管進行5次溫度循環(huán)測試。該測試旨在模擬二極管在不同溫度環(huán)境下的性能,確保其在溫度變化中依然可靠。


                4. 恒定加速度

                   根據(jù)GJB128A 2006方法,對Y1方向施加196000m/s2的恒定加速度,以評估二極管在高速運動或振動環(huán)境中的可靠性。對于IF≥10A的器件,施加的加速度為98000m/s2。


                5. 外觀及機械檢查

                   使用10倍放大鏡或顯微鏡,依據(jù)GJB128A 2071方法進行外觀和機械性能的檢查。這項檢查可在篩選開始時進行,并在后續(xù)過程中重復。


                6. 粒子碰撞噪聲檢測(PIND)

                   采用GJB128A 2052方法進行粒子碰撞噪聲檢測,主要檢測二極管內部是否存在游離顆粒,這些顆??赡軐е露O管在使用過程中出現(xiàn)不穩(wěn)定的情況。


                7. 高溫反偏(HTRB)

                   依據(jù)GJB128A 1038方法,對二極管施加0.75倍的反向電壓,并在125±2℃的高溫環(huán)境下持續(xù)進行96小時、72小時或48小時的測試。此測試用于檢驗二極管在高溫高壓條件下的耐受能力。


                8. 老練前電參數(shù)測試(室溫)

                   在老練測試前,再次對二極管進行室溫下的電參數(shù)測試,確保器件的初始性能符合規(guī)范要求。


                9. 老練(室溫)

                   依據(jù)GJB128A 1038方法,在室溫下對二極管進行老練測試。通過長時間施加電流,提前暴露二極管潛在的早期失效模式,時間跨度為240小時、160小時或96小時。


                10. 老練后電參數(shù)測試(室溫)

                    對老練后的二極管再次進行電參數(shù)測試,并計算Δ值不合格品率。針對不同等級的器件,不合格品率(PDA)的要求分別為Ⅰ級≤5%、Ⅱ級≤10%、Ⅲ級≤15%。


                11. 電參數(shù)測試(高溫)

                    在高溫條件下測試二極管的電參數(shù),確保其在高溫環(huán)境中的性能穩(wěn)定。測試標準LTPD=10,若樣品不通過測試,則需對所有樣品進行全面檢測。


                12. 電參數(shù)測試(低溫)

                    在低溫條件下進行電參數(shù)測試,確保二極管在低溫環(huán)境中的可靠性。測試標準同樣為LTPD=10。


                13. 密封測試(細檢漏、粗檢漏)

                    依據(jù)GJB128A 1071方法,進行細檢漏和粗檢漏測試。該測試主要針對有內腔的二極管元器件,確保其在密封狀態(tài)下不會出現(xiàn)漏氣或滲透的問題。


                14. 外觀及機械檢查

                    在篩選流程的最后,再次對二極管進行外觀和機械檢查,確保所有篩選后的元器件外觀完好,機械性能滿足要求。


                二極管元器件的二次篩選通過一系列嚴格的測試,有效剔除潛在的早期失效產品,確保其在實際應用中的高可靠性。這些篩選步驟不僅能夠提升電子設備的穩(wěn)定性和使用壽命,還為整機系統(tǒng)的可靠性提供了堅實保障。在現(xiàn)代電子產品的質量控制中,二次篩選已成為不可或缺的重要環(huán)節(jié)。


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