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                陶瓷電容器AEC-Q200認(rèn)證測(cè)試項(xiàng)目及樣品數(shù)量要求
                文章來(lái)源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間：2024-06-04 瀏覽數(shù)量：
                
                        
                
                            
                AEC-Q200 是汽車電子委員會(huì) (Automotive Electronics Council, AEC) 制定的標(biāo)準(zhǔn)，專門(mén)用于汽車電子元器件的可靠性測(cè)試，包括陶瓷電容器。為了確保陶瓷電容器符合AEC-Q200標(biāo)準(zhǔn)，需要進(jìn)行一系列測(cè)試。這些測(cè)試旨在驗(yàn)證元器件在各種極端條件下的性能和可靠性。
                優(yōu)科檢測(cè)是具備AEC-Q200標(biāo)準(zhǔn)CNAS全項(xiàng)檢測(cè)能力的第三方陶瓷電容器AEC-Q200認(rèn)證測(cè)試機(jī)構(gòu)，接下來(lái)為大家介紹陶瓷電容器AEC-Q200認(rèn)證測(cè)試項(xiàng)目及樣品數(shù)量要求。

                陶瓷電容器AEC-Q200認(rèn)證測(cè)試機(jī)構(gòu).jpg

                陶瓷電容器AEC-Q200認(rèn)證測(cè)試項(xiàng)目及樣品數(shù)量要求
                Table 2: Stress Qualifications for Ceramic Capacitors
                陶瓷電容器的應(yīng)力條件
                NO.
                序號(hào)                		Stress
                測(cè)試內(nèi)容                		Reference 
                測(cè)試方法                		Minimum Sample Size Per Lot
                Depending on Component Size (cm3)                		Number of lots 
                批次                		Accept on
                Number failed
                允許不合格數(shù)
                樣品體積
                <10cm3
                Sample Size Per
                測(cè)試樣品數(shù)量                		≧10cm3 
                ≦330cm3
                >330cm3                		Individual
                單個(gè)型號(hào)                		Family
                系列
                1Pre- and Post-Stress Electrical Test
                應(yīng)力測(cè)試前后電氣測(cè)試                		User Specification.
                用戶規(guī)范                		除非另有規(guī)定，所有認(rèn)證器件
                All qualification components unless otherwise specified                		0 Fails
                2Temperature Cycling
                溫度循環(huán)                		JESD22-A104772610130 Fails
                3Destructive Physical Analysis 
                破壞性物理分析                		EIA-4691053130 Fails
                4Humidity Bias
                高溫高濕                		MIL-STD-202
                Method 103                		772610130 Fails
                5High Temperature Operating Life
                高溫工作壽命                		MIL-STD-202
                Method 108                		772610130 Fails
                6External Visual
                外觀檢查                		MIL-STD-883
                Method 2009                		所有認(rèn)證器件
                All qualification parts submitted for testing                		0 Fails
                7Physical Dimension
                尺寸檢查                		 JESD22-B10030104130 Fails
                8Terminal Strength（THT）
                端子強(qiáng)度                		MIL-STD-202
                Method 211                		30104130 Fails
                9Resistance to Solvents
                耐溶劑測(cè)試                		MIL-STD-202
                Method 215                		543130 Fails
                10Mechanical Shock
                機(jī)械沖擊                		MIL-STD-202
                Method 213                		3043130 Fails
                11Vibration
                振動(dòng)                		MIL-STD-202
                Method 204                		3043130 Fails
                12Resistance to Soldering Heat
                耐焊接熱                		MIL-STD-202
                Method 210                		3043130 Fails
                13ESD
                ESD靜電測(cè)試                		AEC-Q200-0021563130 Fails
                14Solderability
                可焊性                		J-STD-00215 each
                condition                		63130 Fails
                15Electrical Characterization
                電氣特性                		User Specification.30104330 Fails
                16Board Flex (SMD)
                板彎曲（貼片）                		AEC-Q200-00530104130 Fails
                17Terminal Strength (SMD)
                引出端強(qiáng)度（貼片）                		AEC-Q200-00630104130 Fails

                
                        
                
                        
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