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文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間：2024-04-23 瀏覽數(shù)量：
汽車電子委員會(AEC- Automotive Electronics Council)由克萊斯勒(Chrysler) 、福特(Ford) 和通用汽車公司(General Motors)成立，旨在制定電氣元件的通用質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。第一版AEC標(biāo)準(zhǔn)是1994年推出的，100針對集成電路，101針對分離元件，102針對光電元件，104針對MCM模塊，200針對被動元件。
AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)地位
AEC-Q100作為目前應(yīng)用最為廣泛和基本的車規(guī)級，它近乎強(qiáng)制，而功能安全并非強(qiáng)制，僅為建議性。
AEC-Q100 環(huán)境運(yùn)行溫度范圍標(biāo)準(zhǔn)
溫度范圍是AEC-Q100核心標(biāo)準(zhǔn)之一。
1） AcceleratedEnvironment Stress （加速環(huán)境壓力）
2） Accelerate LifetimeSimulation （加速壽命仿真）
3） Packaging/Assembly （封裝/組裝）
4） Die Fabrication （芯片制程）
5） ElectricalVerification （電氣驗(yàn)證）
6） Defect Screening （不良品篩選）
7） Cavity PackageIntegrity （腔體封裝完整性）
AEC-Q100認(rèn)證流程
A組：AEC-Q100環(huán)境壓力測試
B組：AEC-Q100 加速壽命模擬測試
AEC-Q100封裝完整性測試
最為有趣的就是D，目前尚無測試標(biāo)準(zhǔn)與方法，多集中在芯片制造領(lǐng)域，這也許是由于芯片制造領(lǐng)域改變過快等原因造成，所以AEC-Q100僅提出測試項(xiàng)，即電遷移即EM，通過介質(zhì)穿透TDDB，熱載流子注入HCI，負(fù)偏壓溫度不穩(wěn)定性NBTI和壓力遷移SM。測試標(biāo)準(zhǔn)與方法均為空白，AEC委員會附加說明The data, test method, calculations and internal criteria should beavailable to the user upon request for new technologies.意思就是用戶看著辦吧。
AEC-Q100電特性測試
AEC-Q100 F與G組測試
優(yōu)科檢測是專業(yè)第三方AEC-Q100認(rèn)證測試機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室具備AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)CNAS全項(xiàng)檢測資質(zhì)和CNCA發(fā)證能力，可提供汽車用芯片AEC-Q100認(rèn)證測試服務(wù)。我們以車企車規(guī)芯片國產(chǎn)化需求為牽引，依托國產(chǎn)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)基礎(chǔ)，提供完善的檢測認(rèn)證服務(wù)，通過AEC-Q100車用標(biāo)準(zhǔn)嚴(yán)格把控汽車芯片安全質(zhì)量，助力國產(chǎn)車規(guī)級芯片大力發(fā)展，為打造智能汽車安全體系再添新動力。
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