文章來(lái)源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間：2023-05-25 瀏覽數(shù)量：
電子元器件的車(chē)規(guī)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)就是AEC組織制定的一系列標(biāo)準(zhǔn)，其初衷是為了推動(dòng)了汽車(chē)用電子器件的通用化。AEC標(biāo)準(zhǔn)極大地促進(jìn)了汽車(chē)電子器件的資格通用化，降低了零部件公司及OEM的器件選擇、使用及變更成本，極大地提高了電子零部件及車(chē)輛的可靠性，提高了電子器件的通用化水平。
1. 產(chǎn)品采用的所有電子元器件均為車(chē)規(guī)級(jí)（AEC-Q*** Qualified）；
2. 產(chǎn)品滿足汽車(chē)電子設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)要求；
3. 產(chǎn)品滿足大型車(chē)企的測(cè)試要求；
4. 產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)批量前裝（量小的車(chē)型不算，半前裝或后裝都不算）。
激光雷達(dá)產(chǎn)品里面電子元器件應(yīng)用的標(biāo)準(zhǔn)：
| 系統(tǒng) | 核心器件 | 適用AEC標(biāo)準(zhǔn) |
| 激光發(fā)射系統(tǒng) | 激光器 | AEC- Q102 |
| 激光接收系統(tǒng) | 光電探測(cè)器 | AEC- Q102 |
| 信息處理系統(tǒng) | 電子元器件 | AEC- Q100 Q101，Q200 |
| 掃描系統(tǒng) | MEMS器件 | AEC- Q100 |
| 機(jī)電部件 | 無(wú) |
AEC-Q102是專(zhuān)門(mén)針對(duì)激光雷達(dá)的核心器件激光器和光電探測(cè)器而制定的新標(biāo)準(zhǔn)，讓激光雷達(dá)“有法可依”，AEC-Q102專(zhuān)門(mén)規(guī)定了針對(duì)激光器件的以下部分：
1. 4.5章測(cè)試注意事項(xiàng)（Notes for Testing Laser Components）；
2. 流程變更指南（Process Change Guideline for Laser Components）；
3. 最小參數(shù)測(cè)試要求和失效標(biāo)準(zhǔn)（Minimum Parametric Test Requirements and Failure Criteria）；
4. Table 3認(rèn)證測(cè)試方法（Qualification Test Methods）；
5. Table 3某些專(zhuān)門(mén)針對(duì)Laser的測(cè)試要求（Required only for laser components.）。
電子元器件車(chē)規(guī)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)無(wú)疑是AEC組織所制定的系列標(biāo)準(zhǔn)之一，它的本意在于促進(jìn)汽車(chē)電子器件通用化。AEC標(biāo)準(zhǔn)極大地促進(jìn)了汽車(chē)電子器件的資格通用化，降低了零部件公司及OEM的器件選擇、使用及變更成本，極大地提高了電子零部件及車(chē)輛的可靠性，提高了電子器件的通用化水平。
| 標(biāo)準(zhǔn) | 標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng) | 標(biāo)準(zhǔn)范圍 |
| AEC-Q100 | 集成電路的應(yīng)力測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) | 集成芯片 |
| AEC-Q101 | 分立半導(dǎo)體元件的應(yīng)力測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) | 分立半導(dǎo)體，如MOS、IGBT、二極管、三極管、穩(wěn)壓管、TVS、可控硅等 |
| AEC-Q102 | 汽車(chē)應(yīng)用的光電半導(dǎo)體應(yīng)力測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) | 光電半導(dǎo)體，如LED，光電二極管，光電三極管，激光器件 |
| AEC-Q103 | MEMS壓力傳感器應(yīng)力試標(biāo)準(zhǔn) | 壓力傳感器，如胎壓傳感器 (其他MEMS傳感器屬于AEC-Q100范圍) |
| AEC-Q104 | 汽車(chē)應(yīng)用的多芯片模塊(MCM)應(yīng)力測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) | 多芯片模組，如LED模組、SSD等，目前還不包含Power MCMs (如IGBT/SiC模組) |
| AEC-Q200 | 被動(dòng)器件的應(yīng)力測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) | 被動(dòng)器件，如電阻、電容、電感、變壓娶、壓敏電阻、熱敏電阻、聚合物可恢復(fù)保險(xiǎn)絲、晶體等 |
電子元器件要做到整個(gè)車(chē)型生命周期及車(chē)輛生命周期內(nèi)的高可靠性，主要涉及以下內(nèi)容:
1. 器件本身質(zhì)量的高可靠性是器件長(zhǎng)使用壽命的基礎(chǔ)；
2. 器件長(zhǎng)達(dá)15年以上的供貨周期中，器件批次間品質(zhì)的一致性，是實(shí)現(xiàn)器件長(zhǎng)生命周期的保證；
3. 器件生命長(zhǎng)周期內(nèi)的變更及重新認(rèn)證，是解決器件一致性及可靠性的重要手段；
4. IATF16949、AEC-Q、PPAP等標(biāo)準(zhǔn)及流程體系對(duì)產(chǎn)品設(shè)計(jì)及制造的支撐功不可沒(méi)。
對(duì)激光雷達(dá)而言，除核心器件激光器和探測(cè)器需要通過(guò)AEC-Q102認(rèn)證外，所有電子元器件都要通過(guò)AEC-Q認(rèn)證，這樣激光雷達(dá)才有了車(chē)載應(yīng)用的基礎(chǔ)，才有了整體去過(guò)零部件試驗(yàn)及滿足車(chē)輛長(zhǎng)達(dá)15年嚴(yán)苛應(yīng)用的可靠性基礎(chǔ)，自動(dòng)駕駛車(chē)輛的安全才能夠得到保障。
優(yōu)科檢測(cè)是專(zhuān)業(yè)第三方電子元器件檢測(cè)機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室具備AEC-Q系列標(biāo)準(zhǔn)CNAS全項(xiàng)檢測(cè)資質(zhì)和CNCA發(fā)證資質(zhì)，可提供車(chē)規(guī)級(jí)集成電路、分立半導(dǎo)體器件、光電半導(dǎo)體器件、傳感器、被動(dòng)元件等汽車(chē)電子元件AEC-Q檢測(cè)認(rèn)證服務(wù)。我們可依據(jù)產(chǎn)品使用條件和質(zhì)量指標(biāo)，定義符合汽車(chē)電子質(zhì)量要求的測(cè)試計(jì)劃，助力客戶(hù)快速進(jìn)入汽車(chē)電子市場(chǎng)。
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