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                AEC-Q102認(rèn)證測試項目

                文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間:2023-05-09 瀏覽數(shù)量:

                AEC-Q102是針對汽車電子使用的分立光電半導(dǎo)體元器件的車規(guī)級測試標(biāo)準(zhǔn),同時也是目前最新針對車用LED通用的國際標(biāo)準(zhǔn)。標(biāo)準(zhǔn)中的試驗每項都是針車用LED所可能遭遇的環(huán)境來設(shè)計,以保護行車時的安全性,對光電器件的可靠性提出了嚴(yán)格的測試要求,大大提升了光電器件的使用性能。


                分立光電半導(dǎo)體AEC-Q102認(rèn)證.jpg


                下面就是關(guān)于AEC-Q102認(rèn)證的測試項目:

                序號測試項目縮寫檢測方法
                A  加速環(huán)境應(yīng)力試驗
                A1預(yù)處理PCJEDEC JESD22-A113
                A2a高溫濕工作壽命1WHTOL1JEDEC JESD22-A101
                A2b高溫濕工作壽命2WHTOL2JEDEC JESD22-A101
                A2c高濕度高溫反向偏壓H3TRBJEDEC JESD22-A101
                A3a功率溫度循環(huán)PTCJEDEC JESD22-A105
                A3b間歇使用壽命IOLMIL-STD-750-1 Method 1037
                A4溫度循環(huán)TCJEDEC JESD22-A104
                B 組 加速壽命應(yīng)力試驗
                B1a高溫濕工作壽命1HTOL1JEDEC JESD22-A108
                B1b高溫濕工作壽命2HTOL2JEDEC JESD22-A108
                B1c高溫反向偏壓HTRBJEDEC JESD22-A108
                B2低溫使用壽命LTOLJEDEC JESD22-A108
                B3脈沖壽命PLTJEDEC JESD22-A108
                C 組 封裝組合完整性測試
                C1破壞性物理分析DPAAppendix 6
                C2物理尺寸PDJEDEC JESD22-B100
                C3綁線強度WBPMIL-STD-750-2Method 2037
                C4綁線剪切WBSJESD22-B116
                C5芯片剪切DSMIL-STD-750-2Method 2017
                C6端子強度TSMIL-STD-750-2Method 2036
                C7凝露DEWAEC-Q102-001
                C8耐焊接熱RSG(-wave)Lead containing devices per JESD22-B106Lead(Pb)-free devices per AEC-Q005
                C9熱阻TRJEDEC JESD51-50 JESD51-51 JESD51-52
                C10可焊性SDJEDEC J-STD-002 or IEC 60068-2-58(SMD)IEC 60068-2-20(Through hole)
                C11晶須生長WGAEC-Q005
                C12硫化氫H2SIEC 60068-2-43
                C13混合氣流測試FMGIEC 60068-2-60 Test method 4
                C14板彎曲BFAEC-Q102-002
                E 組 光電驗證試驗
                E0目檢EVJEDEC JESD22-B101
                E1應(yīng)力前后電氣和光度試驗TESTSection 2.3.7& User specification or supplier's standard specification
                E2參數(shù)驗證PVindividual AEC user specification
                E3靜電放電特性 HBMHBMANSI/ESDA/JEDEC JS-001
                E4靜電放電特性 CDMCDMAEC-Q101-005
                G 組 空腔封裝完整性測試
                G1恒定加速度CAMIL-STD-750-2Method 2006
                G2變頻振動VVFJEDEC JESD22-B103 Condition 1
                G3機械沖擊MSJEDEC JESD22-B110
                G4密封性HERJEDEC JESD22-A109


                優(yōu)科檢測是專業(yè)第三方AEC-Q102認(rèn)證機構(gòu),實驗室具備AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)CNAS全項測試資質(zhì)和測試能力,可提供車用LED分立光電半導(dǎo)體元器件AEC-Q102認(rèn)證檢測服務(wù),我們致力于為LED上中下游產(chǎn)品提供創(chuàng)新的品質(zhì)解決方案,幫助LED廠商快速進入汽車電子市場。


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